基礎訓練 晶元測試

問題描述

有n（2≤n≤20）塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。

每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試晶元實際的好壞無關）。

給出所有晶元的測試結果，問哪些晶元是好晶元。

輸入格式

輸入資料第一行為乙個整數n，表示晶元個數。

第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個資料。表中的每個資料為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的資料表示用第i塊晶元測試第j塊晶元時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該晶元對本身的測試結果。晶元不能對本身進行測試）。

輸出格式

按從小到大的順序輸出所有好晶元的編號

樣例輸入3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

樣例輸出

解析：本題的關鍵在於找出統計規律(即

統計每個晶元的合格率)，如果按行檢測，滿足條件。則繼續檢測該列，如果兩者都滿足條件，那麼恭喜你已經找到合格品的位置了，然後，輸出該晶元的編號。

滿足的條件是： 合格品的個數 大於 總數的一半 即可。

#include #define n 20

int main(void)
} 
} return 0;
}

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