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晶振頻率輸出為什麼時有時無或頻率發生跳變？
有如下幾種情況會導致此情況：
需要注意的是：如果b模抑制電路引數設計不合理，b模現象是隨機發生的，晶振再次通電時，很有可能又恢復正常。
測試儀表的精度應該考慮哪些因素？
由於晶振是乙個高穩定和低雜訊的優質訊號源，在測試晶振的穩定性指標如溫度穩定度、電源特性、負載特性時，考慮日波動的因素，（我們）推薦選擇溫度穩定度指標比被測晶振高乙個量級的晶振，或原子鐘作為參考訊號； 在測試準確度指標時，推薦選擇準確度比被測晶振高乙個量級的晶振，或原子鐘作為參考訊號。 在測試相噪指標時，參考源的相噪建議比被測晶振低-5dbc/hz以上，且相噪測試儀表的底噪應該比被測晶振低-10dbc/hz以上。
一些測量儀表是內建高穩ocxo作為參考訊號，建議在測量前先預熱24小時以上。
需要特別注意的是：對於ocxo產品，由於存在開機特性的因素，在測試ocxo的溫度穩定性、電源特性、短穩等精密指標時，ocxo需通電24小時以上以免出現測試誤差。
外部晶振的使用原因與內部RC振盪器的使用方法
原因一 做進晶元內部，但是現在可以了。這個問題主要還是實用性和成本決定的。原因二 則是石英 二氧化矽 沒法做在一起，但是可以封裝在一起，目前已經可以實現了，但是成本就比較高了。原因三 晶振一旦封裝進晶元內部,頻率也固定死了，想再更換頻率的話，基本也是不可能的了，而放在外面,就可以自由的更換晶振來給晶...
c 中vector向量的一些主要問題
近日，用到c stl中vector，瀏覽到關於出現 debug error vector iterator not dereferencable 問題的一帖子 include include using namespace std void excisevector void int main vo...
目前軟體分析設計過程中的主要問題
軟體開發中很多的深層次問題是因為缺乏溝通的造成的，一方面我們的需要有在團隊中溝通的機制，更重要的我們需要有溝通的統一資訊平台。目前軟體企業中,已經沉澱了大量的軟體分析設計的的資產，這些資產中所包含的知識和經驗無法在企業內體系化的進行傳承，復用。在軟體分析和設計過程中，分析設計的利益相關者無法統一，協...