RayTracing 取樣技術

2021-09-14 03:44:19 字數 1114 閱讀 4252

簡單來說:光線追蹤就是從視點和畫素兩點成一條射線,投射光線到場景中,返回光線碰撞到的物體的顏色。

但是,對每個畫素只投射一條光線,會造成鋸齒現象。

下面介紹幾種在畫素格內的取樣技術,從而投射多條射線進行顏色中和,從而形成抗鋸齒的效果。

在2d畫素格內,隨機選取n個取樣點。這些取樣點在1d投影上的分布狀態並不好,隨機取樣的效果還是略差。如下圖所示:

對畫素格進行了分層管理的方法,先等分成n*n個子網格。

然後在每個子網格中進行隨機取樣。取樣分布明顯好於隨機取樣。

n-rooks取樣和抖動的區別是,抖動取樣在n*n網格中時需要

要求是各行各列中只存在乙個取樣點。剛開始是生成一條直線(如下圖),然後在保持n-rooks的狀態下,隨機混合x.y座標

1d投影尚可,但是2d分布並不如抖動取樣。

例如在16*16的網格上,新增4*4的網格,視為子網格。在每個子網格中生成乙個取樣點,然後在子子網格中遵循n-rooks。

多重取樣效果較好。

該類取樣是基於計算機數字表示法,不算是隨機取樣。

對整數i,其基數為2 取根的反函式 如下表:

n個2d取樣點的序列可以定義為n個取樣點pi的集合

其1d投影為等間隔取樣,對於給定的n值,只存在唯一乙個hammersley取樣。

當鄰接畫素採用相同的取樣點集時,會產生嚴重失真。所以該方法不適合單獨使用

光線追蹤(raytracing)

考慮乙個二維平面,攝像機在 0,0 0,0 的位置,初始時平面上沒有障礙物。現在執行qq次操作,操作有兩種 假設這是第ii次操作,1 i q1 i q 1 給定x0,y0,x1,y1 x0 2 給定向量 x,y x,y 會有乙個動點從攝像機所在的 0,0 0,0 位置出發,以 x,y x,y 所指的...

開始研究Ray tracing

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