Java 晶元測試

2021-09-10 03:59:30 字數 560 閱讀 7150

問題描述

有n(2≤n≤20)塊晶元,有好有壞,已知好晶元比壞晶元多。

每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時,能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時,會隨機給出好或是壞的測試結果(即此結果與被測試晶元實際的好壞無關)。

給出所有晶元的測試結果,問哪些晶元是好晶元。

輸入格式

輸入資料第一行為乙個整數n,表示晶元個數。

第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個資料。表中的每個資料為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的資料表示用第i塊晶元測試第j塊晶元時得到的測試結果,1表示好,0表示壞,i=j時一律為1(並不表示該晶元對本身的測試結果。晶元不能對本身進行測試)。

輸出格式

按從小到大的順序輸出所有好晶元的編號

樣例輸入

31 0 1

0 1 0

1 0 1

樣例輸出

1 3**:

public class test }}

for(int i=0;i}

}}

qa 晶元測試 晶元測試術語介紹CP FT WAT

cp ft wat cp是把壞的die挑出來,可以減少封裝和測試的成本。可以更直接的知道wafer 的良率。ft是把壞的chip挑出來 檢驗封裝的良率。現在對於一般的wafer工藝,很多公司多把cp給省了 減少成本。cp對整片wafer的每個die來測試 而ft則對封裝好的chip來測試。cp pa...

13 晶元測試

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296 晶元測試

題目描述 有n塊晶元,有好有壞,已知好晶元比壞晶元多。每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時,能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時,會隨機給出好或是壞的測試結果 即此結果與被測試晶元實際的好壞無關 給出所有晶元的測試結果,問哪些晶元是好晶元。輸入描述 輸入資料第一行...