題目描述x星球的居民脾氣不太好，但好在他們生氣的時候唯一的異常舉動是：摔手機。
各大廠商也就紛紛推出各種耐摔型手機。x星球的質監局規定了手機必須經過耐摔測試，並且評定出乙個耐摔指數來，之後才允許上市流通。
x星球有很多高聳入雲的高塔，剛好可以用來做耐摔測試。塔的每一層高度都是一樣的，與地球上稍有不同的是，他們的第一層不是地面，而是相當於我們的2樓。
如果手機從第7層扔下去沒摔壞，但第8層摔壞了，則手機耐摔指數=7。
特別地，如果手機從第1層扔下去就壞了，則耐摔指數=0。
如果到了塔的最高層第n層扔沒摔壞，則耐摔指數=n
為了減少測試次數，從每個廠家抽樣3部手機參加測試。
某次測試的塔高為1000層，如果我們總是採用最佳策略，在最壞的運氣下最多需要測試多少次才能確定手機的耐摔指數呢？
請填寫這個最多測試次數。
注意：需要填寫的是乙個整數，不要填寫任何多餘內容。
這個題的整體解題思路，alex 007在《徹底掌握動態規劃》
如果有n個手機，t層樓，求出最壞的情況經過多少次測試能找大臨界樓層。
即求乙個函式：
m(t,n)=?
如果樓層t為1，那麼測試次數一定為1；
如果手機個數為一，那麼最壞情況一定要測試t次；
下面分析其他情況：
假設第一次扔手機在第k層，而臨界樓層在1～k層之間，接下來的問題就變成了在1～k層之間用n-1個手機測試：
m(k-1,n-1)=?
如果a手機在第k層沒碎，接下來的問題，就變成了k+1～t層之間，用n個手機的測試
m(t-k,n)=?
我們的目標是求出最壞惡毒情況，因此需要對者兩種情況取最大值，同時還要加上第一次測試的次數：
mk(t,n)=1+max
k的範圍是 1<=k<=t,可以通過迴圈來計算，我們是想求最優情況下扔多少次手機才能找到臨界樓層，因此可以列出下式：
m(t,n)=min
code
#include
using
namespace std;
intmain()
dp[t]
[n]=num;}}
cout<999][2
];}
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