3 熱更新失效 PCB及PCBA失效分析

2021-10-25 12:50:56 字數 1259 閱讀 7362

1、簡介

隨著電子產品的高密度化及電子製造的無鉛化,pcb及pcba產品的技術水平、質量要求也面臨嚴峻的挑戰,pcb的設計與生產加工及組裝過程中需要更嚴格的工藝與原材料的控制。目前由於尚處於技術和工藝的轉型期,客戶對pcb製程及組裝的認識尚有較大差異,於是類似漏電、開路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類的失效常常發生,常引起**商與使用者間的質量責任糾紛,為此導致了嚴重的經濟損失。通過對pcb及pcba的失效現象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產品質量,改進生產工藝,仲裁失效事故有重要意義。

2、服務物件

印製板及其元件(pcb&pcba)是電子產品的核心部件, pcb&pcba可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。

諮詢具備深厚的板級失效分析技術能力、完備的失效分析手段、龐大的分析案例資料庫和專家團隊,為您提供優質快捷的失效分析服務。

3、失效分析意義

1. 幫助生產商了解產品質量狀況,對工藝現狀分析及評價,優化改進產品研發方案及生產工藝;

2. 查明電子組裝中失效根本原因,提供有效的電子組裝現場工藝改進方案,降低生產成本;

3. 提高產品合格率及使用可靠性,降低維護成本,提公升企業品牌競爭力;

4. 明確引起產品失效的責任方,為司法仲裁提供依據。

分析過的pcb/pcba種類:

剛性印製板、撓性印製板、剛撓結合板、金屬基板

通訊類pcba、照明類pcba

4、主要針對失效模式(但不限於)

爆板/分層/起泡/表面汙染 開路、短路

焊接不良:焊盤上錫不良、引腳上錫不良 腐蝕遷移:電化學遷移、caf

5、常用失效分析技術手段

成分分析:顯微紅外分析(micro-ftir)掃瞄電子顯微鏡及能譜分析(sem/eds)俄歇電子能譜(aes)飛行時間二次離子質譜儀(tof-sims) 熱分析技術:差示掃瞄量熱法(dsc)熱機械分析(tma)熱重分析(tga)動態熱機械分析(dma)導熱係數(穩態熱流法、雷射閃射法)

離子清潔度測試:nacl當量法陰陽離子濃度測試 應力應變測量與分析:熱變形測試(雷射法)應力應變片(物理貼上法)

破壞性檢測:金相分析染色及滲透檢測聚焦離子束分析(fib)離子研磨(cp)

無損分析技術:x射線無損分析電效能測試與分析掃瞄聲學顯微鏡(c-sam)熱點偵測與定位 失效復現/驗證

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